Máster Universitario en Materiales Nanoestructurados para Aplicaciones Nanotecnológicas
Facultad de Ciencias, Zaragoza

Curso: 1 Carácter: Obligatoria Bibliografía validada el: 29/05/2024

BB

BIRKHOLZ, M. Thin film analysis by X-ray scattering. [s. l.]: Wiley-VCH, 2006. ISBN 3527310525.

	Arauzo García, Ana Belén
	Bernechea Navarro, María
	Campo Ruiz, Jesus Javier
	Cea Mingueza, Pilar
	Laguna Marco, María Ángeles
	Mallada Viana, María Reyes
	Marquina Garcia, Clara Isabel
	Momblona Rincón, María Cristina
	Pardo Gracia, José Angel
	Rubín Llera, Javier
	Sánchez de los Santos, María Isabel
	Usón Muñoz, Laura